内容説明
信頼性の作り込みにおいて最も基本となる信頼性データの収集と解析方法を、近年の研究成果と併せて解説。
目次
序章 信頼性データ解析の必要性と近年の動向
第１章 信頼性データの集め方とデータベースの活用
第２章 信頼性データのまとめ方
第３章 信頼性データ解析の基礎
第４章 確率プロットによる寿命データの解析
第５章 信頼性データの特徴とその解析
第６章 信頼性試験と寿命データ解析
第７章 フィールド寿命データの解析
第８章 故障物理に基づく信頼性データ解析
著者等紹介
鈴木和幸［スズキカズユキ］
１９５０年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了。現在、電気通信大学システム工学科、同大学大学院情報システム学研究科教授、工学博士。Ｗｉｌｃｏｘｏｎ Ａｗａｒｄ（米国品質学会、米国統計学会、１９９９年）
益田昭彦［マスダアキヒコ］
１９４０年生まれ。電気通信大学大学院博士課程修了。工学博士。現在、帝京科学大学生命環境学部環境学科客員教授。工業標準化経済産業大臣表彰、日本品質管理学会品質技術賞、日本信頼性学会奨励賞、ＩＥＥＥ Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ Ｊａｐａｎ Ｃｈａｐｔｅｒ Ａｗａｒｄ（２００７年信頼性技術功績賞）
石田勉［イシダツトム］
１９４６年生まれ。信州大学卒業。日本ケミカルコンデンサ株式会社で品質管理、製品開発等に従事後、日本アイ・ビー・エム株式会社で、製品保証、ソフトウェア品質、お客様満足度調査等に従事。日本科学技術連盟信頼性セミナー講師。ＩＥＣ／ＴＣ５６ディペンダビリティ国内委員会委員。日本信頼性学会シンポジウム実行委員会
横川慎二［ヨコガワシンジ］
１９７０年生まれ。電気通信大学大学院修士課程修了。博士（工学）。現在、ＮＥＣエレクトロニクス株式会社、基盤技術開発本部先端デバイス開発部チームマネージャー。日本電子部品信頼性センター２０００年信頼性シンポジウム優秀論文賞、日本信頼性学会２００３年高木賞、ＩＥＥＥ Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ Ｓｏｃｉｅｔｙ Ｊａｐａｎ Ｃｈａｐｔｅｒ Ａｗａｒｄｓ ２００７年論文賞など（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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