VLSI Test Symposium (Vts 2002), 20th Ieeee

VLSI Test Symposium (Vts 2002), 20th Ieeee

  • IEEE（2002/05発売）
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  • 製本 Paperback:紙装版/ペーパーバック版／ページ数 500 p.
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9780769515700
  • DDC分類 004

Full Description

This volume originates from the 20th IEEE VLSI Test Symposium, and is concerned with computer engineering. It is aimed at researchers, professors, practitioners and students.