半導体デバイスの信頼性技術

半導体デバイスの信頼性技術

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  • サイズ A5判／ページ数 333p／高さ 22X16cm
  • 商品コード 9784817130211
  • NDC分類 549.8
  • Cコード C3050

目次

第１章　半導体デバイスの特質
第２章　品質保証の実際
第３章　信頼性評価の基本
第４章　信頼性要因と故障解析
第５章　個別デバイスの信頼性の課題
第６章　集積回路デバイスの信頼性の課題
第７章　品質保証に関する規格および認証制度

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