Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements : Cryostat Design, Material Properties and Superconductor Critical-Current Testing

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Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements : Cryostat Design, Material Properties and Superconductor Critical-Current Testing

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  • 製本 Hardcover:ハードカバー版/ページ数 704 p./サイズ 218 line drawings
  • 言語 ENG
  • 商品コード 9780198570547
  • DDC分類 536.54

基本説明

Presents a practical perspective of heat transfer, materials selection, construction techniques, wiring, thermometry, sample mounting, and electrical contacts, and recent developments in superconductor data analysis and scaling theory.

Full Description

This book presents a highly integrated, step-by-step approach to the design and construction of low-temperature measurement apparatus. It is effectively two books in one: A textbook on cryostat design techniques and an appendix data handbook that provides materials-property data for carrying out that design. The main text encompasses a wide range of information, written for specialists, without leaving beginning students behind. After summarizing cooling methods, Part I provides core information in an accessible style on techniques for cryostat design and fabrication - including heat-transfer design, selection of materials, construction, wiring, and thermometry, accompanied by many graphs, data, and clear examples. Part II gives a practical user's perspective of sample mounting techniques and contact technology. Part III applies the information from Parts I and II to the measurement and analysis of superconductor critical currents, including in-depth measurement techniques and the latest developments in data analysis and scaling theory. The appendix is a ready reference handbook for cryostat design, encompassing seventy tables compiled from the contributions of experts and over fifty years of literature.

Contents

PART I ; PART II ; PART III