目次
第１部 残留応力の基礎（応力とひずみ；残留応力の発生・評価・制御；残留応力と強度評価）
第２部 Ｘ線応力測定の基礎（結晶材料；Ｘ線と回折；多結晶のＸ線応力測定；Ｘ線応力測定の実際）
第３部 Ｘ線応力測定法の応用（シンクロトロン放射光による応力測定；中性子回折による応力測定；多相材料・複合材料の応力評価；表面改質・コーティングの応力評価；薄膜の応力評価；接合・溶接材の残留応力評価）
第４部 結晶弾性のマイクロメカニックス（単結晶の弾性変形；単結晶のＸ線応力測定；多結晶・多相材料の回析弾性定数；繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のＸ線応力測定）
付録
著者等紹介
田中啓介［タナカケイスケ］
１９４３年兵庫県生まれ。１９６６年京都大学工学部機械第２学科卒業。１９７１年京都大学大学院博士課程単位取得退学、京都大学工学部助手。１９７２年工学博士、京都大学。１９８３年京都大学工学部助教授。１９９１年名古屋大学工学部教授。１９９７年名古屋大学大学院工学研究科教授
鈴木賢二［スズキケンジ］
１９５８年宮城県生まれ。１９８０年新潟大学工学部機械工学科卒業。１９８２年新潟大学大学院修士課程修了、新潟大学教育学部助手。１９８５年新潟大学教育学部講師。１９８９年新潟大学教育学部助教授。１９９３年博士（工学）、名古屋大学。２００４年新潟大学教育人間科学部教授
秋庭義明［アキニワヨシアキ］
１９５９年山形県生まれ。１９８２年新潟大学工学部機械工学科卒業、京都セラミックス株式会社入社。１９８４年京都大学工学研究科修士課程入学。１９８９年京都大学工学研究科博士課程単位取得退学、九州工業大学工学部講師、工学博士、京都大学。１９９０年九州工業大学工学部助教授。１９９２年名古屋大学工学部助教授。１９９７年名古屋大学大学院工学研究科助教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。
