出版社内容情報
Ｘ線回折・散乱技術は物質の原子レベルの構造を探るのに最も一般的かつ有効な手段である．本書ではその多様な技法に対応し，データを正しく解析するために理解しておくべき基本的事項や解析理論を詳細に解説している．
内容説明
本書はＸ線回折・散乱の手法を初めて扱う学生、研究者・技術者のために基本的な知識と技術をわかりやすく易く解説したものである。上巻ではこの研究分野を理解するのに必要な理論と実験両面での基礎的なことがらを解説している。
目次
１ 基本的な知識（物質の構造についての基本的な知識；Ｘ線についての基本的な知識）
２ 回折理論（運動学的回折理論―モザイク結晶による回折；動力学的回折理論―完全に近い結晶による回折）
３ 光源・検出系・光学系（Ｘ線光源；Ｘ線の検出・計測法；Ｘ線の単色化とコリメーション）
